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實(shí)驗(yàn)?zāi)シ蹤C(jī)是一種用于實(shí)驗(yàn)室制樣的設(shè)備,它能將塊狀或顆粒狀的樣品快速研磨并粉碎成均勻、細(xì)小的粉末,以供后續(xù)的化學(xué)成分分析、物理特性檢測等實(shí)驗(yàn)使用。
實(shí)驗(yàn)?zāi)シ蹤C(jī)是一種可調(diào)軋距、研磨和篩理過程全程可見的精密實(shí)驗(yàn)?zāi)シ蹤C(jī),磨粉過程與大型工業(yè)制粉過程類似,水分損失少,一般僅為0.2%-0.4%,廣泛用于實(shí)驗(yàn)室對小麥樣品進(jìn)行實(shí)驗(yàn)制粉,進(jìn)行面團(tuán)流變學(xué)特性、面制品制作實(shí)驗(yàn)等分析,從而評價(jià)小麥粉品質(zhì)。外形美觀,結(jié)構(gòu)緊湊,質(zhì)量可靠,操作簡便,水分損失極少
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